|
![]() |
Рисунок 1. Комплект полупроводниковых приборов (слева-направо): термистор, фоторезистор, фотоэлемент, термоэлемент, диоды, транзистор. Изготовлен в 1976 году на заводе «Электродело», Ленинград. |
Название прибора | Явления, свойства |
Термистор ММТ-4 | Зависимость сопротивления полупроводников от температуры и техническое применение этого явления. |
Фоторезистор ФС-К1 | Зависимость сопротивления полупроводников от освещенности и техническое применение этого явления в фотоэлектронной автоматике. |
Фотоэлемент селеновый СФ-10 | Возникновение фото-э.д.с. при освещении электронно-дырочного перехода. |
Термоэлемент | Виды проводимости полупроводников и термоэлектрических явлений, возникающих в электронно-дырочном переходе. |
Диоды германиевые, плоскостные Д7Ж | Односторонняя проводимость электронно-дырочного перехода и практического применения этого свойства для выпрямления переменного тока. |
Транзистор германиевый, плоскостной П14 | Усиление, детектирование и генерирование электрических колебаний. |
![]() |
Рисунок 2. Некоторые детали набора слева-направо: держатель с диодом; пластина с закрытым слоем аморфного селена для демонстрации изоляционных свойств; пластина с открытым слоем кристаллического селена предназначена для демонстрации внешнего вида поликристаллического селена; пластина изоляционная с открытым слоем кристаллического селена предназначена для демонстрации зависимости объемных свойств селена внешних факторов. Пластины квадратные со стороной 100 мм. |
Зависимость электропроводности селена от: | Основные свойства электронно-дырочного перехода |
- температуры - освещения - механических деформаций - структуры - примесей |
- односторонняя проводимость, - особенность вольтамперной характеристики и нелинейность, - влияние внешних факторов на характеристики p-n перехода, - преобразование лучистой энергии в электрическую |